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冷熱沖擊試驗(yàn)箱廠(chǎng)家適用于電子元器件的性能測(cè)試提供可靠性試驗(yàn)、產(chǎn)品篩選試驗(yàn)等，同時(shí)通過(guò)此裝備試驗(yàn)，可提高產(chǎn)品的可靠性和進(jìn)行產(chǎn)品的質(zhì)量控制。

溫度沖擊試驗(yàn)儀器適用于對(duì)電工電子、其它產(chǎn)品、零部件、材料以及各種電子元器件進(jìn)行高溫、低溫，表面產(chǎn)生凝露的濕熱條件下使用性能和貯存的適應(yīng)性。產(chǎn)品參照國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)GB10589《低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件》、GB11158《高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件》、GB10586《濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件》

溫度沖擊測(cè)試箱廠(chǎng)家設(shè)備在瞬間下經(jīng)*溫及極低溫的連續(xù)環(huán)境下所能忍受的程度，藉以在短時(shí)間內(nèi)試驗(yàn)其熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化或物理傷害。適用的對(duì)象包括金屬，塑料，橡膠，電子……等材料，可作為其產(chǎn)品改進(jìn)的依據(jù)或參考。

兩箱冷熱沖擊試驗(yàn)箱是一種可以瞬間從高溫到低溫轉(zhuǎn)換的檢測(cè)設(shè)備，用于測(cè)試材料結(jié)構(gòu)或復(fù)合材料，在瞬間下經(jīng)高溫及低溫的連續(xù)環(huán)境下所能忍受的程度，得以在最短時(shí)間內(nèi)檢測(cè)試樣因熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化或物理傷害。分為兩廂式和三廂式，區(qū)別在于試驗(yàn)方式和內(nèi)部結(jié)構(gòu)不同，產(chǎn)品符合標(biāo)準(zhǔn)為：GB/T2423.1-2008試驗(yàn)A 、GB/T2423.2-2008試驗(yàn)B、GB-T10592-2008、GJB150.3-19

冷熱沖擊測(cè)試設(shè)備分為高溫區(qū)、低溫區(qū)、測(cè)試區(qū)三部分，采用*之?dāng)酂峤Y(jié)構(gòu)及蓄熱、蓄冷效果，應(yīng)用冷熱風(fēng)路切換方式導(dǎo)入試品中，做冷熱沖擊測(cè)試，待測(cè)品為不移動(dòng)之方式。

冷熱沖擊試驗(yàn)設(shè)備采用大型人機(jī)觸控對(duì)話(huà)式LED人機(jī)接口控制器,操作簡(jiǎn)單,學(xué)習(xí)容易,穩(wěn)定可靠.